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    XTU-50B X荧光光谱仪

    型号: XTU-50B

    • 测量面积:最小0.002mm2
    • 镀层分析:23层镀层24种元素
    • 仪器特点:可手动变焦
    • 仪器优势:同元素不同层分析
    • 联系方式:400-850-1617
    • 服务宗旨:专注研发,专业生产,专精服务

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    仪器简介:

    XTU-50B是一款设计结构紧凑,??榫芑潭燃叩亩撇悴夂褚?,采用了下照式C型腔体设计,不但可以测量各种微小样品,即使大型超出样品腔尺寸的工件也可测量,是一款测量涂镀层成分及厚度性价比高、适用性强的机型。

    该系列仪器使用于平面、微小样品或者微凹槽曲面深度30mm以内的样品涂镀层检测。

    被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


    产品优势:

    • 快速精准移动定位:高精密微型移动滑轨,10-30mm(X-Y)/圈,精度0.005mm

    • 微焦X射线装置:检测面积可小于0.002mm2的样品,可测试各微小的部件

    • 即使测试0.01mm2以下的样品,几秒钟也能达到稳定性

    • 变焦装置及算法:可对各种异形凹槽进行检测,凹槽深度测量范围可达0-30mm

    • 对焦方便:下照式设计可以快速定位对焦样品


    应用领域:

    ●电镀镀层厚度分析

     ●接插件等电子元器件检测

    ● 紧固件行业

    ● 五金行业(家用设备及配件等,如Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS))

    ● 汽车零部件

    ● 配饰厚度分析

    ● 新能源行业(光伏焊带丝等)

     ● 钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB

    ●  电镀液的金属阳离子检测


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    多元迭代EFP核心算法(专利号:2017SR567637)

    专业的研发团队在Alpha和Fp法的基础上,计算样品中每个元素的一次荧光、二次荧光、靶材荧光、吸收增强效应、散射背景等多元优化迭代开发出EFP核心算法,结合先进的光路转换技术、变焦结构设计及稳定的多道脉冲分析采集系统,只需要少量的标样来校正仪器因子,可测试重复镀层、非金属、轻金属、多层多元素以及有机物层的厚度及成分含量。

    单涂镀层应用:如Ni/Fe、Ag/Cu等

    多涂镀层应用:如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等

    合金镀层应用:如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等

    合金成分应用:如NiP/Fe,通过EFP算法,在计算镍磷镀层厚度的同时,还可精准分析出镍磷含量比例。

    重复镀层应用:不同层有相同元素,也可精准测量和分析。

    如钕铁硼磁铁上的Ni/Cu/Ni/FeNdB,第一层Ni和第三层Ni的厚度均可测量。


    技术参数:

    1. 元素分析范围:氯(Cl)- 铀(U)

    2. 涂镀层分析范围:氯(Cl)/锂(Li)- 铀(U)

    3. 厚度最低检出限:0.005μm

    4. 成分最低检出限:1ppm

    5. 最小测量直径0.05mm(最小测量面积0.002mm2)

    6. 对焦距离:0-30mm

    7. 样品腔尺寸:500mm*360mm*215mm

    8. 仪器尺寸:550mm*480mm*470mm

    9. 仪器重量:45KG

    10. XY轴工作台移动范围:50mm*50mm

    11. XY轴工作台最大承重:5KG


    选择一六仪器的四大理由:

    1.一机多用,无损检测

    2.最小测量面积0.002mm2

    3.可检测凹槽0-30mm的异形件

    4.轻元素,重复镀层,同种元素不同层亦可检测






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