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    XAVU抽真空仪器

    XAVU是一款一机多用型光谱仪,应用了先进的EFP算法和微光聚集技术,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。

    仪器简介:

    XAVU是一款一机多用型光谱仪,应用了先进的EFP算法和微光聚集技术,既保留了专用测厚仪检测微小样品和凹槽的膜厚性能,又可满足成分分析。被广泛用于各类产品的质量管控、来料检验和对生产工艺控制的测量使用。


    产品优势:

    1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,最小测量面积达0.03mm2

    2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm

    3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测第一层Ni和第三层Ni的厚度)

    4)配置智能抽真空系统,屏蔽大气对低能元素的影响,对Al,Si,P等轻元素涂镀层厚度以及成分测试精度更高,数据更加准确稳定

    5)装配SDD硅漂移探测器,分辨率更高,能量线性好,较高的峰背比

    6)配置更高效数字多道技术,测试速度更快,计数率达到100000CPS,精度更高

    7)涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92)

    8)成分分析范围:钠Na(11)- 铀U(92)

    9)RoHS、卤素有害元素检测

    10)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

    11)标配4准直器自动切换,最小测量面积可达0.03mm2

    12)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度小于10%






    标签:   轻元素检测 成分分析 镀层测厚

    行业应用:化学镍

    化学镀就是在不通电的情况下,利用氧化还原反应在具有催化表面的镀件上,获得金属合金的方法,是新近发展起来的一门新技术。

    化学镀镍层具有很好的均匀性、硬度、耐磨和耐蚀性等综合物理化学性能,该项技术已经得到广泛应用在航空航天,汽车工业,化学工业,军事工业,石油天然气,食品加工,采矿,电子计算机等各行各业中。

    由于化学镍镀层成分中含有磷(P)等X射线在大气状态无法检出的轻金属元素,加上在不同应用领域中,P的含量高低不一等因素,以往采用的库伦法,X射线法等测量方法都存在准确度,可重现性等方面的不足。

    传统的X射线检测时,由于镀层成分中的P比例是在不停变化的,通过固定镍与磷

    的比例的检测方法已不能完全反映样品的真实情况,造成测量的误差。

    XAVU仪器配备智能真空测试系统屏蔽大气对低能元素的影响,对Al,Si,P等轻元素镀层厚度以及成分测试精度更高,数据更加准确稳定

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    标签:   轻元素检测 成分分析 镀层测厚

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